Kurniasih, S. et al. 2023. Rancang Bangun Aplikasi Sistem Pakar Untuk Mendiagnosis Kerusakan Integrated Circuit (IC) Pada iPhone Dengan Metode Forward Chaining. JoMMiT : Jurnal Multi Media dan IT. 7, 2 (Dec. 2023), 124–129. DOI:https://doi.org/10.46961/jommit.v7i2.917.