Kurniasih, S., Alifia, K., & Ramdhany, T. (2023). Rancang Bangun Aplikasi Sistem Pakar Untuk Mendiagnosis Kerusakan Integrated Circuit (IC) Pada iPhone Dengan Metode Forward Chaining. JoMMiT : Jurnal Multi Media Dan IT, 7(2), 124–129. https://doi.org/10.46961/jommit.v7i2.917