KURNIASIH, Sri; ALIFIA, Kaniza; RAMDHANY, Tri. Rancang Bangun Aplikasi Sistem Pakar Untuk Mendiagnosis Kerusakan Integrated Circuit (IC) Pada iPhone Dengan Metode Forward Chaining. JoMMiT : Jurnal Multi Media dan IT, [S. l.], v. 7, n. 2, p. 124–129, 2023. DOI: 10.46961/jommit.v7i2.917. Disponível em: https://ojs2.polimedia.ac.id/index.php/jommit/article/view/917. Acesso em: 21 nov. 2024.