Kurniasih, S., Alifia, K. and Ramdhany, T. (2023) “Rancang Bangun Aplikasi Sistem Pakar Untuk Mendiagnosis Kerusakan Integrated Circuit (IC) Pada iPhone Dengan Metode Forward Chaining”, JoMMiT : Jurnal Multi Media dan IT, 7(2), pp. 124–129. doi: 10.46961/jommit.v7i2.917.