Kurniasih S, Alifia K, Ramdhany T. Rancang Bangun Aplikasi Sistem Pakar Untuk Mendiagnosis Kerusakan Integrated Circuit (IC) Pada iPhone Dengan Metode Forward Chaining. JOMMIT [Internet]. 2023 Dec. 31 [cited 2024 Nov. 21];7(2):124-9. Available from: https://ojs2.polimedia.ac.id/index.php/jommit/article/view/917